Vincent MICHEL

Portrait

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Techniques Caractérisation des matériaux (poudres, vracs, polymères, films minces) - Identification de phase et quantification de phase, - Texture et poteau pour la détermination des orientations cristallographiques, - Rapport cristallin / amorphe et orientation cristalline par analyse SAXS / WAXS - Des contraintes résiduelles - Analyse de Rietveld - Microdiffraction - Haute résolution - Grands instruments - Synchrotrons et sources de neutrons Compétences Cristallographie, Physique, Science des matériaux Radioprotection, Réglementation, Santé et sécurité Formation et prévention des risques aux rayonnements ionisants Développement technique et scientifique avec le monde industriel Responsabilités Traitement, interprétation et analyse des résultats avec les collaborateurs Entretien des diffractomètres et de l'équipement de diffusion des rayons X Formation de nouveaux utilisateurs pour les instruments Gestion du centre XRD avec un budget de fonctionnement de 320 000 euros Certification de radioprotection NFC 15-160 pour le laboratoire PIMM Obtention de l'autorisation d’utilisation auprès de l’Autorité de Sûreté Nucléaire (ASN) Implication et facturation de projets industriels Amélioration des processus expérimentaux Gestion de la formation continue pour l'industrie Collaborations, conférences et réunions en France et à l'étranger Diffusion de l'information scientifique et technique